10.3969/j.issn.1674-5795.2012.04.013
Verigy 93000短期校准在变化率测试中的应用
介绍了集成电路电参数变化率对短期校准的需求和Verigy93000集成电路测试系统的校准方式,研究实现了Verigy93000集成电路测试系统的短期校准装置,该装置可应用于直流参数变化率测试.
Verigy 93000、变化率、短期校准、直流参数
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TP391(计算技术、计算机技术)
国家科技重大专项课题资助2008ZX01035-002
2012-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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