用时间分辨法实现半导体激光器特性脉冲测试

摘要：

提出了一种基于时间分辨的脉冲式半导体激光器特性测试新方法,并研制了相应的测试系统.该方法根据脉冲驱动源的时序,同步产生采样窗口信号,然后根据采样窗采集半导体激光器的注入电流、端电压和输出光功率等数据,进而获得表征器件特性的曲线和参数.该方法解决了半导体激光器特性测试中的2个关键问题:一是现有的连续测试方法造成的器件温升,影响测试准确性和安全性；二是解决了脉冲驱动源与测试的同步问题.文中给出了最小脉冲宽度达100 ns的窄脉冲驱动的L-I-V测试曲线和测试参数.

关键词：半导体激光器、脉冲测试、时间分辨、特性

所属期刊栏目：32

分类号：TN248.4(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家"十一五"计量科研计划项目资助J052009B002

在线出版日期：2012-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：43-46