10.3969/j.issn.1674-5795.2011.02.001
基于遗传粒子群算法的模拟电路测试点选择
针对模拟电路测试点选择的特点,提出利用遗传粒子群算法与整数编码故障字典相结合的方法进行测试点选择.首先根据各测试点的数据建立整数编码故障字典,然后利用遗传粒子群算法选取最优测试点.将该方法应用于实际模拟滤波器的测试点选择,结果表明:利用该方法很容易求出模拟电路的全局最优测试点.
模拟电路、故障诊断、遗传粒子群算法、测试点选择
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TN710(基本电子电路)
2011-08-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
1-3,20