10.3969/j.issn.1674-5795.2010.01.004
嵌入式存储器自修复电路的设计与仿真
介绍了一种存储器自修复电路的仿真设计,其中内建自测试模块中的地址生成器采用LFSR设计,它面积开销相当小,从而大大降低了整个测试电路的硬件开销.而内建自修复模块采用基于一维冗余(冗余行块)结构的修复策略设计.通过16×32比特 SRAM自修复电路设计实验验证了此方法的可行性.
嵌入式存储器、SRAM、线性反馈移位寄存器(LFSR)、自测试、自修复
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TP343;TM133(计算技术、计算机技术)
2010-05-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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