标准分划尺在CCD压痕直径测量系统校准中的应用

摘要：

在高精度测量中,为达到测量精度要求,需要对CCD像素进行校准.本文介绍一种简单易行的采用标准分划尺校准CCD像素的方法.首先标准分划尺经过线纹工作基准装置校准;通过对标准分划尺成像,得出在一段标准距离下的像素数;最后得出每个像素所对应的实际距离.实验证明,这种方法能够有效地抑制综合误差,改善测量精度.

关键词：CCD成像、标准分划尺、高精度、像素校准

所属期刊栏目：28

分类号：TB92;TH711(计量学)

在线出版日期：2009-01-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：38-40,50