SiO2包覆羰基铁粉电磁特性及吸波性能研究

摘要：

通过正硅酸乙酯(TEOS)水解,在羰基铁表面包覆SiO2,对其进行表面改性,研究表面包覆时间对电磁特性和吸波性能的影响.采用XRF、FT–IR对样品的元素及化学键进行表征,使用TEM分析样品表面形貌,确定包覆层厚度.利用矢量网络分析仪对样品的电磁参数进行测量,研究其吸波性能.结果表明:羰基铁表面包覆层厚度约为40～60nm,随包覆时间延长,包覆层厚度逐渐增加并致密;经模拟,包覆后同等厚度样品对电磁波的吸收峰向高频移动,频带宽度(RL≤–10dB)明显增加;包覆2h样品,反射损耗最小,最佳反射损耗值为–45.18dB,展现出了良好的吸波性能.

关键词：表面改性、羰基铁粉、正硅酸乙酯(TEOS)、表面包覆、吸波性能

所属期刊栏目：62

分类号：TQ3;TH8

在线出版日期：2020-01-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：82-87