一种TiAl合金高温低循环疲劳性能及失效机理

摘要：

通过对TiAl合金进行总应变范围控制的高温(750℃)低循环疲劳实验,研究双态(Duplex,DP)和全片层(Fully Lamellar,FL)组织形态对TiAl合金低循环疲劳性能和寿命的影响,并采用总应变幅-寿命方程对两类组态TiAl合金低循环疲劳寿命进行预测.结果表明:在相同温度和应变条件下,DP组态TiAl合金稳态迟滞回线对应的平均应力明显低于FL组态TiAl合金稳态迟滞回线对应的平均应力;采用总应变幅-疲劳寿命方程能够准确预测两种组态TiAl合金在750℃下的疲劳寿命,预测寿命基本位于试验寿命的 ±2倍分散带以内;另外,DP组态TiAl合金的疲劳源区位于试样的近心部,而FL组态TiAl合金的疲劳源区位于试样的次表面,两类组态TiAl合金的高温疲劳失效机理存在明显差异.

关键词：TiAl合金、低循环疲劳、寿命预测、迟滞回线、失效机理

所属期刊栏目：37

分类号：TG146.2+1(金属学与热处理)

资助基金：国家自然科学基金-青年基金51401195;国家973 计划课题2011CB605501;航空基金2013ZF21014

在线出版日期：2017-11-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：77-82