DD6单晶叶片射线检测中常见疑似缺陷显示的试验研究

摘要：

针对DD6单晶叶片射线检测底片上出现的一些疑似缺陷,作者从理论分析和具体实验两方面进行了研究.从叶片的材料性能和铸造角度分析,DD6单晶叶片可能存在孔洞类的内部冶金缺陷.而设计的具体实验则是将收集的11片叶片样品进行解剖,并将断面与其射线底片进行对比,得出结论:这些疑似缺陷并不是金属内部冶金缺陷,而是表面缺陷.

关键词：单晶叶片、射线底片、射线检测

所属期刊栏目：31

分类号：TG2;TG1

在线出版日期：2012-06-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：176-178