基于PXI总线的红外导引头性能测试系统设计

摘要：

详细描述了红外导引头自动测试系统的基本原理, 分析了测试系统的技术组成和总体结构, 阐述了基于PXI总线的测控系统的硬件结构和软件设计方法. 应用证明, 该系统工作可靠, 满足对红外导引头性能指标的测试要求.

关键词：PXI总线、红外导引头、自动测试系统、工业控制计算机、LabWindows/CVI

分类号：TJ765.3+33(火箭、导弹)

在线出版日期：2011-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：50-53