积分时间和工作电压对焦平面探测器性能的影响

摘要：

测试了采用某CTIA型读出电路的128元InSb焦平面探测器在不同积分时间和工作电压情况下的特性,分析了实验中遇到的一些现象,得到了使焦平面探测器综合性能较高的积分时间和工作电压的取值区间,为设计CTIA型读出电路提供了参考依据.

关键词：CTIA、读出电路、焦平面阵列、Insb

分类号：TJ7(火箭、导弹)

在线出版日期：2006-06-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：35-37