热、振及热振耦合条件下塑封球栅阵列含铅焊点失效分析
对塑封球栅阵列封装器件进行了热循环、随机振动以及热振耦合试验,在3种试验条件下测试Sn37Pb焊点的寿命,并对3种载荷条件下失效焊点位置的分布规律以及焊点的失效模式进行对比分析. 结果表明,塑封球栅阵列封装焊点在热振耦合试验中的寿命明显小于热循环以及随机振动试验的寿命结果. 热循环、随机振动条件下越靠近测试板中心位置,器件的焊点越容易发生破坏,而热振耦合试验中不同位置上器件的失效焊点数比较接近. 此外,热循环条件下破坏模式主要表现为钎料内部的韧性断裂,随机振动条件下主要为界面金属间化合物层内的脆性断裂,而热振耦合条件下这两种破坏模式均有发生.
热循环;随机振动;热振耦合;失效模式;塑封球栅阵列封装
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TG425.1(焊接、金属切割及金属粘接)
国家自然科学基金;北京市自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金
2021-12-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共6页
49-54
