元器件镀金引脚焊点开裂失效分析与控制
宇航元器件镀金引脚钎焊前,需对焊接位置进行去金搪铅锡处理,避免焊接界面生成脆性金锡化合物,防止在使用时受外力作用而发生焊点"金脆"开裂.文中针对某宇航型号所用霍尔元件镀金引脚的焊点经历环境试验后脱落的问题,对相关镀金引脚焊点的形貌、金相与界面结构进行分析. 结果表明,元件引脚焊接位置已进行去金处理,但其焊接位置末端局部去金不彻底,焊点界面局部区域生成脆性金锡化合物,导致焊点前端生成裂纹源;经历宇航级温度循环或外力冲击考核试验时,因裂纹前端存在应力集中,导致裂纹持续扩展并发生焊点开裂脱落失效.确保镀金引线焊接位置去金质量并严控钎焊位置,避免在焊点内局部区域生成脆性金锡化合物,对提升镀金引脚焊点可靠应用具有重要意义.
焊点失效、金脆、金锡化合物
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TG454(焊接、金属切割及金属粘接)
2020-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共8页
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