引线间距对 QFP 焊点的可靠性影响的有限元分析

摘要：

采用有限元方法分别对具有相同引线间距和不同封装类型的QFP器件的焊点残余应力进行了数值模拟计算分析.结果表明,焊点根部、焊趾部位以及引线和焊点交界处为应变集中区域,该三处将可能成为焊点发生破坏区域,在焊点根部的应力值是最大,所以在焊点根部最容易发生破坏.对结果进行分析比较,从应力曲线图可以看出,由于残余应力累积的原因,应力具有迭加性;在引线数目相同的QFP器件中,TQFP64焊点的应力最小,VQFP64次之,SQFP64最大.在引线间距相同的QFP器件中,QFP64焊点的应力最小,QFP44居中,QFP32最大;同时与QFP100比较可知,高密度细间距器件的焊点可靠性更高.

关键词：有限元、残余应力、引线间距、引线数

所属期刊栏目：29

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

资助基金：江苏省普通高校研究生科研创新计划资助项目CX07B087z;江苏省"六大人才高峰"资助项目06-E-020

在线出版日期：2008-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：85-88