10.3321/j.issn:0253-360X.2006.09.018
CVD金刚石膜的钎焊界面反应层及微结构
借助扫描电镜和电子探针,分析了金刚石与Ag-Cu-Ti活性钎料界面反应层的微观组织结构、界面新生化合物的形成机理以及焊接工艺条件对界面结构的影响,建立了钎焊接头界面结构物理模型.结果表明,在一定的钎焊工艺条件下,金刚石/钎料界面存在灰色的新生化合物TiC,与TiC相邻的是蜂窝状的TiCu相;接头断裂不仅仅发生在TiC相中,有时断裂也发生在TiCu层.钎焊加热温度、保温时间、钎料层的含Ti量对CVD金刚石厚膜与硬质合金的接头结构模型有重要影响.
金刚石、Ag-Cu-Ti活性钎料、钎焊、界面反应层
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TG401(焊接、金属切割及金属粘接)
2006-11-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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