γ全能峰右高左低现象理论分析

摘要：

用HPGeγ谱仪对高活度放射性样品进行测量时,在能谱中出现了全能峰右侧明显高于左侧的现象,为准确定量分析γ放射性核素带来困难.通过理论分析,详细解释了该现象产生的原因,实验验证了理论分析结论是正确的.分析结果表明,全能峰右侧高于左侧的现象主要由偶然符合效应引起,并且总体上全能峰左右两侧高度的比值随死时间增大先增后减,当死时间小于等于1.0％时,全能峰左右两侧高度近似相等,当死时间位于1.0％-4.0％时,峰左右高度比值随死时间而增大,当死时间位于4.0％-56％时,峰左右高度比值随死时间增加而减小.并通过实验结果与LabSOCS计算结果对比,显示右高左低这种现象并不会对点源的能谱测量造成影响.

关键词：γ能谱、全能峰、偶然符合

所属期刊栏目：41

分类号：TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：国家自然科学基金No.11405134资助 Supported by National Natural Science Foundation of China 11405134

在线出版日期：2018-01-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：50-54