快电子对快离子损失诊断测量的影响

摘要：

基于闪烁体原理的快离子损失探针(Fast Ion Loss Detector,FILD),可以同时测量损失快离子的能量和pitch-angle的值,是核聚变装置中对高能粒子诊断的重要方式.根据先进实验超导托卡马克(Experimental Advanced Superconducting Tokamak,EAST)的发展需求,为了更好地对损失快离子行为进行研究,设计并安装了快离子损失诊断,且探测到在中性束加热条件下产生的损失快离子.同时,探测到在放电中产生的逃逸电子,以及低杂波注入时快电子产生X射线对快离子损失背景信号的影响.并且在H-mode放电时边界扰动也对快离子损失信号产生影响,这些探测到的现象都为不断升级损失诊断系统提供依据.

关键词：闪烁体、快离子损失诊断、逃逸电子

所属期刊栏目：40

分类号：TL99

资助基金：国家磁约束聚变能源研究专项2014GB109004、2015GB110005;国家自然科学基金No.11575249资助 Supported by Nation Magnetic Confinement Fusion Science Program of China2014GB109004, 2015GB110005;National Natural Science Foundation of China11575249

在线出版日期：2017-12-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：85-90