基于改进型贪心算法的单板源源棒排列优化

摘要：

对于单板钴源而言，现有源棒排列优化方法都针对辐射加工，难以满足电子学器件耐辐照考核实验对剂量场均匀性较高的要求。通过建立数学模型，对基于改进型贪心算法进行求解，实现了源棒排列优化。算法采用贪心算法策略，以使参考辐照面剂量率不均匀度最小为约束条件来确定源棒位置；参考经验法来限制求解空间，利用枚举法改善初始条件、放置顺序对排源结果的影响，以增大算法的全局搜索能力。算例结果表明：针对耐辐照考核实验，获得了参考面剂量率不均匀度≤1.02条件下的源棒排列，满足使用要求，排源效果优于经验法，效率提高约100倍；针对辐射加工，排源效果、效率与已有基于贪心算法和模拟植物生长算法的优化方法相当。本文排源方法既能用于耐辐照考核实验又可适用于辐射加工。

关键词：单板钴源、源棒优化排列、贪心算法、辐照考核实验

分类号：TL929;TB114.1

资助基金：国家自然科学基金委员会-中国工程物理研究院NSAF联合基金U1530129

在线出版日期：2015-11-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：100204-1-100204-7