10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.020401
GaN与Si器件作为辐伏电池换能单元性能比较
利用63Ni和3H源等分别辐照两种可作为辐伏电池换能单元的GaN基和Si基PiN结型器件,比较了他们的输出电性能结果,以及两种器件的温度、辐照性能等.结果表明,GaN器件开路电压Voc比Si基器件有非常明显的提高,而短路电流Isc有较大下降;GaN基结型器件在高温和高能辐照条件下的性能比Si基结型器件有较大优势.
辐伏同位素电池、GaN器件、Si器件、电输出性能
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TL82(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
2015-06-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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