低能大流强氦离子辐照对钼的表面损伤作用

摘要：

钼(Mo)材料被作为托卡马克装置中面向等离子体材料的候选材料被广泛研究,因此研究钼材料的辐照损伤行为对于认识聚变堆关键材料的辐照损伤机制具有重要意义.采用低能(100 eV)、大流强(约1021 ions.m-2.s-1)He+在600℃对钼样品进行辐照实验,考察了离子辐照剂量和退火温度变化对钼材料的表面损伤作用.分别采用扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)和无损伤的导电原子力显微镜(Conductive Atomic Force Microscopy,CAFM)检测技术对辐照前后样品的微观形貌、微结构演化以及内表面缺陷分布等进行了对比研究.结果表明,He+辐照会诱导钼样品晶粒尺寸的增加,钼材料表面的晶粒取向会影响辐照缺陷的分布.这对于探索抑制材料辐照损伤的新方法具有重要的指导意义.

关键词：He+辐照、钼、表面损伤、导电原子力显微镜

所属期刊栏目：37

分类号：TL62+7(受控热核反应（聚变反应理论及实验装置）)

资助基金：国家自然科学基金项目11405023;辽宁省教育厅科研项目L2014539;国家级大学生创新创业训练计划项目G201412026039;大连民族学院“太阳鸟”学生科研项目tyn2014353

在线出版日期：2015-06-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：23-28