EDXRF中特征X射线的蒙特卡罗模拟及全能峰高斯展宽技术
针对实现X荧光先进无标样分析的前期关键技术,开展基于Si(PIN)探测器的EDXRF系统蒙特卡罗模拟及全能峰高斯展宽技术研究.以攀枝花矿区典型的铁尾矿为分析目标,实验测量得到样品中各元素特征X射线的仪器谱,通过建立Si(PIN)探测装置的蒙特卡罗模拟模型,获得铁尾矿的模拟注量谱,然后用自行计算得到的高斯展宽参数对模拟注量谱进行高斯展宽.结果表明,蒙特卡罗模拟方法能较好的实现元素定性分析,并可自动校正Fe元素对Ca、Ti、V和Cr的增强效应,自行建立的高斯展宽技术可准确得到复杂矿样中元素特征X射线的峰强度.本项研究为进一步实现先进的EDXRF无标样分析提供了关键技术.
EDXRF、蒙特卡罗模拟、高斯展宽、无标样分析
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O657.34(分析化学)
国家杰出青年科学基金41025015;国家自然科学基金项目40974065;核退役与核废物处置四川省青年科技创新研究团队2011JTD0013;成都理工大学优秀创新团队培育计划CDUTHY0084;国家高技术研究发展计划2012AA063501
2015-06-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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