样品厚度对高纯锗γ谱仪探测效率的影响

摘要：

通过对不同厚度样品的γ射线测量,得出波谱峰面积与样品厚度的关系,并通过相对测量和效率刻度测量方法,计算不同厚度样品在46.5、351.9、477.6、661.7 keV能量下的探测效率.探测效率随样品厚度的变化较大,不同厚度样品的4种探测效率最大值平均为最小值的2.6倍.实验结果显示:探测效率随样品厚度增加而逐渐减小,呈现对数关系.随着能量的增加,对数关系减弱,线性关系增强.

关键词：高纯锗γ谱仪、探测效率、样品厚度

所属期刊栏目：34

分类号：TL814(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：国家自然科学重点基金41030751;国家自然科学面上基金40873071;江苏省教育厅重大项目09KJA170002;江苏高校优势学科建设工程资助

在线出版日期：2015-06-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：683-688