星用微处理器抗单粒子翻转可靠性预示研究

摘要：

运用程序占空比概念,对星用微处理器动态和静态单粒子翻转率之间的关系进行了研究,实现了星用微处理器动态单粒子翻转率的预示.将星用微处理器在轨运行期间满足单粒子翻转指标要求的概率与单粒子翻转率和飞行寿命联系起来,探讨了器件级和系统级的星用微处理器抗单粒子翻转可靠性预示方法.

关键词：星用微处理器、单粒子翻转率、程序占空比、抗单粒子翻转可靠性

所属期刊栏目：33

分类号：V416;V443(基础理论及试验)

在线出版日期：2015-06-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：832-835