降感环三甲撑三硝胺微缺陷小角X射线散射研究

摘要：

应用小角x射线散射研究含能材料降感RDX微缺陷结构,给出降感RDX样品材料内部微缺陷尺寸及微缺陷数量信息,分析了降感RDX晶体在生长过程中微缺陷变化趋势.结果表明,降感RDX微缺陷数量密度随晶体粒度增加逐渐降低,微缺陷特征尺度变化较小,另外还存在部分择优取向分布特征的微缺陷,微缺陷密度呈降低趋势.

关键词：小角X射线散射、降感RDX、微缺陷

所属期刊栏目：33

分类号：O722~+.5(X射线晶体学)

在线出版日期：2010-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：161-164