HPGe探测器死层厚度及点源效率函数研究

摘要：

在层析γ扫描分析方法的效率矩阵求解过程中,建立准确尺寸的HPGe晶体计算模型对所求的探测器效率矩阵准确性有很大影响.在使用原始的实验探测器晶体尺寸建立的模型进行探测效率计算时,发现计算与实验所得的探测效率最大误差达19%.调整探测器计算模型的死层厚度可使计算结果准确度得到很大改善.研究发现,死层厚度与各测量点相对误差平均值存在线性关系,在此基础上提出一种可快速确定最优死层厚度的修正方法.使用调整后探测器晶体尺寸,计算出不同位点源位置不同射线能量下的探测效率,拟合出探测效率与点源位置及射线能量的函数关系,用于快速求得探测效率矩阵.

关键词：蒙特卡罗方法、探测效率函数、死层厚度、层析γ扫描

所属期刊栏目：33

分类号：TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：国家自然科学基金10675084

在线出版日期：2010-03-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：25-30