符合多普勒展宽测量系统的性能研究

摘要：

研制了一套具有外触发和内触发两种工作模式的高性能符合多普勒展宽测量系统(Coincident DopplerBroadening,CDB),其中外触发模式具有更好的时间分辨(FWHM＜7 ns)和更高的峰谷比(＞106),适于强源高计数率测量(符合计数率＞200/s);数字化的内触发模式,由于不需要复杂的外围电路,造价便宜、稳定性好因而更为实用,但时间分辨率(94 ns)和峰谷比(＞105 )明显逊于外触发模式.通过软件算法进行滤堆积处理后,在低符合计数率(～100/s)测量时峰谷比也能达到外触发水平(106).本文系统介绍了谱仪的基本性能,测试了高纯金属标样Cu、Ni、W和Al的多普勒展宽谱,同时通过飞行正电子湮没(Positron Annihilation in Flight)实验验证了相对论动能公式E2total=p2c2+m2ec4,结果表明谱仪在时间分辨和去本底(峰谷比优于106)方面都具有较高的性能;作为应用例,表征了偏离正常化学比NiAl合金正电子湮没位置的化学环境,结果表明,CDB系统对开空间缺陷周围的化学环境变化具有较高的灵敏性,在材料微结构研究领域具有广泛的应用前景.

关键词：正电子湮没、符合多普勒展宽、性能研究

所属期刊栏目：31

分类号：O571.23;O483(原子核物理学、高能物理学)

资助基金：国家自然科学基金10575112,60606011,10705031

在线出版日期：2008-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：577-582