10.3321/j.issn:0253-3219.2008.04.007
双极运算放大器辐射损伤效应研究
本文研究了不同制造商的同型号双极运算放大器的辐射效应和室温退火行为,发现同型号产品的辐射效应有很大差异.我们分析了此类辐射效应差异的主要原因,对双极运算放大器高低剂量率下的辐射效应作了解释.计算了它们的损伤增强因子和退火因子,结果表明,同种型号运放电路的损伤增强因子间的最大差异可达约8倍.
双极运算放大器、60Coγ辐射、辐射效应、增强因子
31
TN432;TN722(微电子学、集成电路(IC))
2008-07-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
270-274