基于多分辨率分析的X荧光能谱的除噪与弱峰检测

摘要：

在对X荧光谱噪声的分析基础上,阐述了多分辨率分析的基本思想,并将之应用于X射线能谱定量分析中的噪声的消除,取得了良好的效果.利用噪声和信号小波变换的性质随尺度的加大而显著不同的特点,运用小波多分辨率分析进行信号噪声的消除,可提高弱峰的检测能力,实验结果表明,该降噪的方法不仅计算速度快,而且和其它的方法相比,对低含量元素形成的弱峰的定量分析结果也更加理想.

关键词：多分辨率分析、X荧光能谱、除噪、弱峰检测

所属期刊栏目：31

分类号：O657.62;TP391(分析化学)

资助基金：四川省应用基础项目2006J13-018

在线出版日期：2008-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：260-264