南宋低岭头越瓷的同步辐射X荧光线扫描分析

摘要：

采用同步辐射X荧光(SRXRF)探针技术,对南宋低岭头越窑青瓷残片作线扫描分析,发现其胎釉之间存在明显的中间层,这与汝瓷相似.并与北宋汝瓷线扫描图进行了对比分析,发现两者之间存在着一些差异:中间层要比汝瓷的稍薄一些,元素在釉中的含量分布与汝瓷不一样,从釉表面到内含量的变化都有反复过程.这种差异可能是两者所用的胎料和烧瓷的窑不同而造成的.

关键词：同步辐射X荧光、南宋低岭头越瓷、线扫描分析、中间层

所属期刊栏目：27

分类号：K854.2(文物考古)

资助基金：中国科学院知识创新工程项目KJCX-No4;国家自然科学基金10135050

在线出版日期：2005-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：953-957