10.3321/j.issn:0253-3219.2004.07.001
应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷
应用同步辐射X射线形貌术对坩埚下降法生长的Nd:SGG晶体的缺陷进行了研究.观察到该晶体中存在较为明显的镶嵌结构晶界缺陷和位错缺陷,并分析了上述缺陷的形成原因.对提高Nd:SGG晶体质量、改进生长工艺具有一定的参考价值.
Nd:SGG 激光晶体、同步辐射白光形貌术、晶体缺陷
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O723(X射线晶体学)
2004-08-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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