10.3321/j.issn:0253-3219.2004.04.008
水底沉积物原位X射线荧光测量中水分的影响与校正
论述了水底(海底、湖底或水系)沉积物中含水量的变化对原位X射线荧光测量的影响,以源初级X射线在沉积物上的相干散射线和非相干散射射线强度为内标建立的散射校正方程,可有效地克服沉积物中含水量变化对目标元素特征X射线的干扰.实验结果表明,对铜矿远景区土壤样品,当样品中含水量变化为20%时,目标元素(Fe:10.9%;Cu:300mg/kg;Zn:124mg/kg)特征X射线强度的变化小于5%.
海底沉积物、X射线荧光分析、水分、散射校正
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P631.6
国家高技术研究发展计划863计划820-Q-03;国际原子能机构IAEA国际合作项目11305
2004-06-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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