掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构

摘要：

利用荧光X射线吸收精细结构(XAFS)技术研究了厚度为3-105 nm范围的分子束外延生长的Pt金属薄膜的局域结构.结果表明,30nm和105 nmPt薄膜的XAFS结果与多晶Pt箔的相似,在径向结构函数图中的2.61、3.80、4.63、5.43 A处出现第一、二、三和四配位壳层的配位峰,保持着Pt金属的面心立方结构特征.30nmPt薄膜样品的结构参数:配位数N=11.9,键长R=2.77A,无序度σ2=0.0055A2.3nrm和10nmPt超薄膜的径向结构函数曲线中的第一配位峰形状与105nrm Pt厚膜的相似,但强度明显降低,其结构参数分别为:N=10.1,R=2.78A,σ2=0.0077A2;N=11.3,R=2.77A,σ2=0.0061A2;同时其高壳层的配位峰近于消失,说明3 nm和10nm Pt超薄膜的中程有序结构遭到较大影响,无序度明显增加.在350-800℃温度范围内生长的105 nm Pt薄膜,其局域结构近似于Pt金属晶体.

关键词：荧光X射线吸收精细结构、Pt超薄膜、掠入射

所属期刊栏目：27

分类号：O722;O484(X射线晶体学)

资助基金：国家自然科学基金10174068

在线出版日期：2004-06-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：87-90