利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法测定79Se的半衰期

摘要：

利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法(PX-AMS)对79Se的半衰期进行了测定.用这一直接测量79Se原子数的方法得到新的79Se半衰期为(2.80±0.36)×105a.利用同样的方法也测定了75Se的半衰期,75Se半衰期的测定结果显示利用PX-AMS方法对79Se半衰期的测定结果是可靠的.

关键词：79Se、半衰期、PX-AMS

所属期刊栏目：27

分类号：TL817+.1;TL817+.7;TL99(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2004-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：22-26