表面弯曲的古陶瓷样品X射线荧光无损定量分析

摘要：

常规X荧光分析中对样品表面有较高要求,这大大影响了利用X射线荧光法对古陶瓷无损分析的进行.本文提出了基本参数法和经验系数法中的两种较为简单的处理方法,以满足对不同大小和弯曲形状样品分析的需要.

关键词：XRF、古陶瓷、无损分析、基本参数法

所属期刊栏目：25

分类号：O571.33(原子核物理学、高能物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：581-586