无损测定铀材料上铝镀层厚度的研究

摘要：

为探讨初级X射线与铝镀层和铀基体物质、铀的特征线与铝镀层之间的相互作用以及铀基体的放射性对测量铝厚度的影响程度,提出强度与镀层厚度关系的数学模型,以及在同一数学模型中,根据铝镀层厚度的实际情况分别选用铀的M和L线测定薄样和厚样.建立了无损测定铀材料上铝镀层厚度(8.2-55.5μm)的测试方法.对8.2-18μm的薄试样,方法的精密度优于3%;对18-55.5μm的厚试样,方法的精密度优于5%.

关键词：无损测定、铀、镀层厚度、X射线荧光

所属期刊栏目：24

分类号：TL816.1(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：中国工程物理研究院项目20000331

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：655-662