微焦点X辐射密度解析成像方法及非线性校正
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:0253-3219.2000.03.004

微焦点X辐射密度解析成像方法及非线性校正

引用
提出了一种利用不同能量的X射线束所获得的图像来实现分离物体内部不同密度成分图像的方法,从本质上对这种算法进行了探讨,证明了这种算法的可行性;讨论了产生误差的原因,给出了对误差进行非线性校正的数学模型;并以两种成分的图像分离为例进行了实验,给出了实验结果.

X射线、能谱、密度解析成像、非线性校正

23

TL82;TL99(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

中国科学院资助项目19705006

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

159-163

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

核技术

0253-3219

31-1342/TL

23

2000,23(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn