Heavy ion-induced MCUs in 28 nm SRAM-based FPGAs:upset proportions,classifications,and pattern shapes

机标关键词：fpgas、heavy、classifications、ion-induced、mcus、pattern、proportions、shapes、sram-based、upset

所属期刊栏目：33

分类号：TP273.5;S;TN911

在线出版日期：2023-01-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：128-137