10.3969/j.issn.1004-7204.2020.01.012
片式电阻防硫化可靠性技术研究
针对某模块产品中片式电阻出现硫化失效问题,通过对片式电阻硫化的机理研究,结合高可靠非封闭结构产品及使用环境要求,开展了多种质量等级电阻、工艺方案、工艺材料的耐硫化环境试验.通过多组试验的对比,提出了非封闭结构产品中片式电阻防硫化的可靠性技术解决方案.
片式电阻、硫化、非封闭结构
TN406;V438+.4(微电子学、集成电路(IC))
2020-03-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
46-49,56