某中频控制器低温下输出异常的失效分析

摘要：

近些年来,关于电子元器件的失效分析已逐渐发展成为一个专门的学科,作为专门的模拟集成电路设计、生产单位,在分析仪器、设备有限的条件下,通过失效分析发现产品设计、测试、以及生产制造过程中存在的问题,以不断改进产品的设计水平和制造工艺,提高产品的可靠性.通过对某中频控制器在用户处表现出来的低温下通断比异常的情况进行分析,发现该产品的设计存在的问题,文中不仅给出了失效机理,同时提出了改进措施.此次失效分析对于同类中频控制器的设计、提高其可靠性具有一定的借鉴意义.

关键词：中频控制器、低温、通断比、失效分析

分类号：TN306(半导体技术)

在线出版日期：2016-10-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：29-33