10.3969/j.issn.1004-7204.2014.05.017
HAST试验对塑封器件分层的影响分析
选取三种具有一定代表性的塑封产品,严格按照军用级标准GJB 7400对塑封电路筛选、预处理后,进行HAST试验摸底,验证HAST环境试验对国产塑封器件的影响,并提出军用塑封器件在设计时的注意事项。
塑封器件、强加速稳态湿热、可靠性、塑封分层
TN406(微电子学、集成电路(IC))
2014-11-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
56-58
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10.3969/j.issn.1004-7204.2014.05.017
塑封器件、强加速稳态湿热、可靠性、塑封分层
TN406(微电子学、集成电路(IC))
2014-11-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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