10.3969/j.issn.1004-7204.2008.03.009
GaAs PHEMT器件的可靠性评估方法研究
本文从GaAs PHEMT器件的失效机理出发,总结了PHEMT器件的几种可靠性评估方法:利用沟道区碰撞电离率对PHEMT器件的热电子退化的评估方法、高频C-V法对肖特基势垒接触退化的可靠性表征方法、用于欧姆接触退化表征的温度斜坡快速评价方法以及2DEG结构引起PHEMT器件失效的可靠性评估方法.
PHEMT、失效机理、可靠性评估方法
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TN3;TP3
2008-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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