10.3321/j.issn:0254-6108.2006.05.031
ICP-MS法测定电子电器材料中的有害元素铅、镉、砷、铬
建立了电感耦合等离子体质谱测定不同基体的电子电器材料中铅、镉、铬、砷四种有害元素的方法.对仪器的参数、测试稳定性等作了系统研究,优化了对不同基体样品中铅、镉、铬、砷元素分析的前处理条件,探讨了各种材料中基体元素与其它共存元素对待测元素的影响.方法检出限为0.0024-0.46μg·g-1,对标准物质的测定值与参考值相符,相对准偏差为0.6%-5.8%.
质谱测定、电子、电器材料、有害元素、电感耦合等离子体、基体元素、方法检出限、元素分析、系统研究、各种材料、处理条件、标准物质、元素对、稳定性、测定值、参考值、优化、仪器、样品、偏差
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X13(环境化学)
2006-10-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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