EAST等离子体电子温度涨落特征的初步实验研究

摘要：

在 EAST 上使用相关电子回旋辐射(CECE)诊断系统观测到不同等离子体参数下的电子温度涨落特征,介绍了欧姆放电、L模放电及无ELM的H模放电的三种现象.在欧姆密度爬升等离子体中,电子温度涨落与电子密度之间表现出很强的相关性,即存在电子温度涨落处于较高水平的电子密度的窗口.初步分析表明,电子温度涨落变化是电子密度梯度和电子温度梯度共同影响的结果.不同辅助加热下的L模等离子体中,电子温度涨落的频谱表现出不同的行为.由于电子回旋共振加热(ECRH)的功率有限,其对电子温度的改变很小,而中性束注入(NBI)有较高的注入功率,能够明显提升电子温度,加热方式及加热功率大小引起的电子温度变化与电子温度涨落变化相关.在没有边缘局域模(ELM)的H模期间,可以观测到频率为18kHz的准相干模,其存在于归一化半径ρ=0.71～0.87较宽的径向范围内.

关键词：相关电子回旋辐射诊断、电子温度涨落、电子密度、电子温度、加热方式

所属期刊栏目：43

分类号：O533(等离子体物理学)

资助基金：国家磁约束核聚变能发展研究专项;国家自然科学基金

在线出版日期：2023-09-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：340-346