硬X射线焦斑环孔编码成像的理论与实验研究

摘要：

针对几十～百keV能量的低强度X射线焦斑源测量,建立了高探测效率环孔编码成像技术.研究给出了环孔成像效率和信噪比与环孔结构参数的关系,采用微联结的环孔结构设计并模拟了联结区尺寸对成像质量的影响,解决了环孔结构同轴成像技术难题.所建立环孔成像系统应用于Unique-II X射线焦斑源成像实验.结果表明,X射线焦斑的空间分布近似为'马鞍'形状,而且中间部分的强度低于两侧的强度,与针孔成像结果相似,但环孔的探测效率明显高于针孔的效率.最后,分析了维纳滤波与R-L两种复原图像方法的效果.

关键词：环孔编码成像、R-L方法图象复原、X射线焦斑

所属期刊栏目：37

分类号：TN762(基本电子电路)

资助基金：国家自然科学基金11275155

在线出版日期：2018-01-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：404-410