EAST软X射线光谱仪绝对强度标定

摘要：

采用基于等离子体轫致辐射的方法，完成了EAST软X射线光谱仪的绝对强度标定。首先利用软X射线光谱仪测量了EAST等离子体的轫致辐射的强度，然后基于等离子体电子温度、电子密度、有效电荷数的剖面，计算了等离子体轫致辐射的功率密度剖面。并将其沿软X射线光谱仪的观测弦进行积分，得到了弦积分的轫致辐射强度。最后通过将轫致辐射强度的测量值和计算值进行对比，得到了软X射线光谱仪在10~50?范围内的绝对强度标定系数。通过比较不同放电条件下的绝对强度标定系数，发现实验中标定系数变化不大，相对稳定。然后利用标定过的软X射线光谱仪测量CⅥ33.73?谱线的辐射强度，并通过非圆截面反演，初步获得了CⅥ33.73?绝对辐射强度的径向分布剖面。研究表明，利用轫致辐射对软X射线光谱仪的标定是可行可靠的。获得的杂质辐射绝对强度可结合杂质输运程序进行杂质输运研究。

关键词：软X射线光谱仪、绝对强度标定、轫致辐射、杂质辐射强度

分类号：TL816+.1(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：科技部磁约束核聚变发展研究专项资助项目2011GB101004，2011GB107003，2012GB101001，2013GB112-004；国家自然科学基金资助项目10990212，11175208

在线出版日期：2013-12-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：312-319