提高HT-7放电平顶阶段等离子体密度对逃逸电子的影响

摘要：

利用硬X射线探测系统监测HT-7托卡马克装置中逃逸电子轰击到装置第一壁材料时所产生的高能硬X射线,研究了在放电平顶阶段提高等离子体密度对逃逸电子行为的影响.实验结果表明,通过提高放电平顶阶段等离子体密度,HXR强度迅速降到很低的水平,这意味着能有效减少这个阶段形成的逃逸电子的数目及能量.

关键词：逃逸电子、等离子体密度、硬X射线

所属期刊栏目：32

分类号：TL61+2.11(受控热核反应（聚变反应理论及实验装置）)

资助基金：ITER国内配套研究专项2009GB104003;教育部科学技术研究重点项目208129;国家自然科学研究基金11005090;云南省教育厅科学研究基金项目09J0025

在线出版日期：2012-12-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：213-217