10.3969/j.issn.0254-6086.2010.04.004
等离子体压强对Line-tied扭曲不稳定性增长率和本征函数的影响
应用半解析方法,研究了直圆柱位形下等离子体压强P0分别为P0=0、P0=常数和P0=f(r)时Line-tied扭曲不稳定性的增长率和二维径向本征函数的演化规律.结果表明,P0=0和P0=常数时的轴向波数k的范围相同,但P0=常数时的增长率比P0=0时的小.P0=f(r)时的轴向波数k的范围和增长率则都比P0=0时的大,同时磁流体的速度变化也较大.因此,P0=f(r)更接近实际的物理模型(例如日冕的喷射问题).
等离子体压强、磁流体、扭曲不稳定性
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O534+.2(等离子体物理学)
国家自然科学面上基金10875024;科技部ITER计划专项国内配套研究2009年度项目2009GB105004;辽宁省高等学校科研项目计划2008S059
2011-03-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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