10.3969/j.issn.0254-6086.2007.02.007
HL-2A装置像素法二维层析成像分析技术的诊断应用
在HL-2A的实验中,我们采用了一种像素法二维层析成像分析技术对软X射线进行反演成像.该方法可对等离子体截面软X射线分布提供详细及可视化的研究方法.该二维层析反演方法已经在HL-2A上得到了成功应用,重建了杂质注入过程和双锯齿破裂过程.
像素法、反演、图像重建
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O536;TL65+9(等离子体物理学)
2007-07-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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