HL-2A装置烘烤时LHCD系统的应力分析

摘要：

测量了HL-2A装置烘烤期间由于温度变化引起的LHCD天线系统位移,得到了装置真空室达到最高的温升112℃时的真空室和天线的总的最大位移为3.47mm,其中天线系统自身的位移为0.9mm.根据这个位移,定性地算出LHCD系统中可能产生的应力.据此,分析了烘烤对LHCD系统带来的影响以及提出了可能采取的缓解措施.

关键词：低杂波电流驱动、烘烤、热应力

所属期刊栏目：26

分类号：TL62(受控热核反应（聚变反应理论及实验装置）)

在线出版日期：2006-04-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：17-21