HL-1M装置逃逸电子输运系数的研究

摘要：

采用磁扰动实验和稳态实验等四种不同方法获得某些局域的逃逸扩散系数Dr.利用等离子体快速移动实验,测量了孔栏上硬X射线通量的变化,获得了边缘扩散系数.利用软X射线强度和硬X射线通量信号的锯齿振荡峰值延迟时间得出了径向平均扩散系数.用微波辐射强度和硬X射线通量信号的锯齿振荡的峰值延迟时间,获得了径向位置某处到孔栏之间的平均扩散系数.用来自孔栏上的韧致辐射谱求出逃逸电子的平均能量,得到逃逸约束时间和径向平均扩散系数.实验中还得到了逃逸电子扩散系数的径向近似分布和内部磁扰动的径向分布.

关键词：逃逸电子输运、扩散系数、内部磁涨落

所属期刊栏目：22

分类号：O523+.11;TL65+9(高压与高温物理学)

在线出版日期：2004-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：90-94