HL-lM装置在NBI期间注入H弹丸和AI杂质的辐射损失特性

摘要：

使用十六道探测器阵列在HL-1M装置上对中性束加热等离子体中注入氢丸和铝杂质的辐射损失功率进行了测量.通过对测量数据的分析,获得了以下主要实验结果,(1)中性束加热等离子体辐射损失功串密度分布在等离子体小半径(3/5)a范围内较平坦,辐射功率密度为0.1W·cm-3左右,(2)在中性束加热期间,用激光吹气注人铝杂质,辐射损失功率密度增加了1倍,但它的分布不明显峰化;(3)注入的氢丸使等离子体辐射损失功率密度增加了 2 倍多,且辐射损失功率密度分布显著峰化.

关键词：辐射损失、十六道探测器阵列

所属期刊栏目：20

分类号：O536(等离子体物理学)

在线出版日期：2004-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：54-57